研究成果

国内会議

  • ラッチの乱数出力位置を利用したPUFによるID生成/認証システムの信頼性向上手法
    著者
    山本 大, 崎山 一男, 岩本 貢, 太田 和夫, 落合 隆夫, 武仲 正彦, 伊藤 孝一
    会議名
    SCIS 2011
    ページ
    2D1–1
    発行年
    2011
    発表日
    2011/1